Morphology and structure of the interface layers in Ni/Ge thin films

Описание

Тип публикации: статья из журнала (материалы конференций, опубликованные в журналах)

Год издания: 2014

Идентификатор DOI: 10.4028/www.scientific.net/SSP.215.259

Ключевые слова: Exchange interaction, Interface structure, Magnetic properties, Magneto - hard layer, Magneto - soft layer, Ni/Ge layer structures, Atomic force microscopy, Exchange interactions, Magnetic properties, Magnetos, Nanomagnetics, Thin films, Hard layers, Interface structures, Layer structures, Magnetic behavior, Magnetic orders, Morphology and structures, Mutual diffusion, Soft layers, Morphology

Аннотация: Morphology and structure of the interface in Ni/Ge thin films being due to the mutual diffusion of these elements are investigated with the help of atomic force microscope, high resolution electron microscope and micro-diffraction. Strong effect of interface in magnetic behavior of Ni layers is demonstrated and explained by formatiПоказать полностьюon of magnetic order in the interface and rough boundaries between layers. © (2014) Trans Tech Publications, Switzerland.

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: (15 September 2013 through 21 September 2013, Vladivostok

Выпуск журнала: Vol. 215

Номера страниц: 259-263

Авторы

Вхождение в базы данных