An automatic setup for measuring low-field temperature dependencies of magnetoresistances of film samples

Описание

Тип публикации: статья из журнала

Год издания: 2007

Идентификатор DOI: 10.1134/S0020441207040227

Ссылки на полный текст

Издание

Журнал: Instruments and Experimental Techniques

Выпуск журнала: Т.50, 4

Номера страниц: 547-549

ISSN журнала: 00204412

Место издания: Москва

Издатель: Pleiades Publishing, Ltd. (Плеадес Паблишинг, Лтд)

Авторы

  • Kim P.D. (Kirenskii Institute of Physics,Siberian Division,Russian Academy of Sciences)
  • Khalyapin D.L. (Kirenskii Institute of Physics,Siberian Division,Russian Academy of Sciences)
  • Bykova L.E. (Kirenskii Institute of Physics,Siberian Division,Russian Academy of Sciences)

Вхождение в базы данных

  • eLIBRARY.RU (цитирований 1)
  • Web of Science
  • Scopus